prikaz prve stranice dokumenta Masena spektometrija sekundarnih iona
Pristup korisnicima matične ustanove
završni rad
Masena spektometrija sekundarnih iona
2020. urn:nbn:hr:194:247239
Omazić, Zvonimir
Sveučilište u Rijeci
Fakultet za fiziku

Citirajte ovaj rad

Omazić, Z. (2020). Masena spektometrija sekundarnih iona (Završni rad). Rijeka: Sveučilište u Rijeci. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Omazić, Zvonimir. "Masena spektometrija sekundarnih iona." Završni rad, Sveučilište u Rijeci, 2020. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Omazić, Zvonimir. "Masena spektometrija sekundarnih iona." Završni rad, Sveučilište u Rijeci, 2020. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Omazić, Z. (2020). 'Masena spektometrija sekundarnih iona', Završni rad, Sveučilište u Rijeci, citirano: 12.11.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Omazić Z. Masena spektometrija sekundarnih iona [Završni rad]. Rijeka: Sveučilište u Rijeci; 2020 [pristupljeno 12.11.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Z. Omazić, "Masena spektometrija sekundarnih iona", Završni rad, Sveučilište u Rijeci, Rijeka, 2020. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Za citiranje koristite ovu mrežnu adresu: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239
Prijavite se u repozitorij kako biste mogli spremiti objekt u svoju listu.
Podaci o radu
NaslovMasena spektometrija sekundarnih iona
Naslov (engleski)Secondary ion mass spectometry
AutorZvonimir Omazić
MentorIvana Jelovica Badovinac (mentor)
Član povjerenstvaRobert Peter (predsjednik povjerenstva)
Član povjerenstvaIvana Jelovica Badovinac (član povjerenstva)
Član povjerenstvaIva Šarić (član povjerenstva)
Ustanova koja je dodijelila
akademski / stručni stupanj		Sveučilište u Rijeci
(Fakultet za fiziku)
Rijeka
Datum i država obrane2020-09-29, Hrvatska
Znanstveno / umjetničko
područje, polje i grana		PRIRODNE ZNANOSTI
Fizika
Sažetak
U ovom radu opisana je masena spektrometrija sekundarnih iona (SIMS) te njene prednosti u odnosu na druge spektrometrijske tehnike. Objašnjeni su osnovni principi na kojima se zasniva ova tehnika, kao što su stvaranje sekundarnih iona i erodiranje uzorka. Navedeni su različiti načini rada kod masene spektrometrije sekundarnih iona i mogućnosti svakoga od njih. Također su opisane i komponente potrebne za SIMS analizu, odnosno osnovni dijelovi SIMS instrumenta. Na kraju su dani primjeri koji pokazuju koje sve informacije o uzorcima i u kojem obliku možemo dobiti ovom tehnikom.
Ključne riječi
Jezikhrvatski
URN:NBNurn:nbn:hr:194:247239
Studijski programNaziv: Fizika
Vrsta studija: sveučilišni
Stupanj studija: preddiplomski
Akademski / stručni naziv: sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike (univ. bacc. phys.)
Vrsta resursaTekst
Način izrade datotekeIzvorno digitalna
Prava pristupaPristup korisnicima matične ustanove
Uvjeti korištenjaIkona licence Zaštićeno autorskim pravom.
Datum i vrijeme pohrane2020-10-19 11:24:23