prikaz prve stranice dokumenta Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku
Pristup korisnicima matične ustanove
završni rad
Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku
2017. urn:nbn:hr:194:807123
Kisiček, Virna
Sveučilište u Rijeci
Fakultet za fiziku

Citirajte ovaj rad

Kisiček, V. (2017). Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku (Završni rad). Rijeka: Sveučilište u Rijeci. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Kisiček, Virna. "Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku." Završni rad, Sveučilište u Rijeci, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Kisiček, Virna. "Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku." Završni rad, Sveučilište u Rijeci, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Kisiček, V. (2017). 'Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku', Završni rad, Sveučilište u Rijeci, citirano: 12.11.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Kisiček V. Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku [Završni rad]. Rijeka: Sveučilište u Rijeci; 2017 [pristupljeno 12.11.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

V. Kisiček, "Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku", Završni rad, Sveučilište u Rijeci, Rijeka, 2017. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Za citiranje koristite ovu mrežnu adresu: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123
Prijavite se u repozitorij kako biste mogli spremiti objekt u svoju listu.
Podaci o radu
NaslovPretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku
Naslov (engleski)Scanning electron microscope in analysis of thin films in cross-section
AutorVirna Kisiček
MentorIvna Kavre Piltaver (mentor)
Član povjerenstvaRobert Peter (predsjednik povjerenstva)
Član povjerenstvaIvna Kavre Piltaver (član povjerenstva)
Član povjerenstvaVelimir Labinac (član povjerenstva)
Ustanova koja je dodijelila
akademski / stručni stupanj		Sveučilište u Rijeci
(Fakultet za fiziku)
Rijeka
Datum i država obrane2017-09-15, Hrvatska
Znanstveno / umjetničko
područje, polje i grana		PRIRODNE ZNANOSTI
Fizika
Sažetak
Pretražni elektronski mikroskop tip je elektronskog mikroskopa kod kojeg se slika dobiva pravilnim pomicanjem snopa elektrona po površini uzorka. Razni detektori najčešće se koriste pri proučavanju topografije, kompozicije te kristalne strukture uzorka. U ovoj radnji opisala sam princip rada pretražnog elektronskog mikroskopa i njegove sastavne dijelove. Također, predstavila sam primjenu pretražnog elektronskog mikroskopa u analizi tankih filmova narastanih tehnikom depozicije atomskih slojeva. Navedeni primjeri prikazuju kako se može odrediti debljina tako pripremljenih uzoraka te kako je moguće odrediti njihov kemijski sastav.
Ključne riječi
Jezikhrvatski
URN:NBNurn:nbn:hr:194:807123
Studijski programNaziv: Fizika
Vrsta studija: sveučilišni
Stupanj studija: preddiplomski
Akademski / stručni naziv: sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike (univ. bacc. phys.)
Vrsta resursaTekst
Način izrade datotekeIzvorno digitalna
Prava pristupaPristup korisnicima matične ustanove
Uvjeti korištenjaIkona licence Zaštićeno autorskim pravom.
Datum i vrijeme pohrane2017-10-26 11:41:10